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            晶體上板測試波形不穩

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            原因分析1:

            主要是由于目前節能大趨勢的影響下,板子整體的輸入功率會越來越低。

            而晶振的起振是由于電路中的噪音引起的,隨著諧振的增加, 逐漸達到穩定的石英晶體頻率和一定的幅度.稱之為諧振(共振),噪音就是雜亂無章的振蕩頻率,晶體頻率是穩定的頻率,經過一定時間,晶體的頻率會從許多頻率中脫影而出,從而振蕩器的頻率穩定在晶體的頻率,因此起振功率小會,造成晶體振蕩頻率無法從一堆的噪音中顯示出來,所以造成此現象。

            解決的辦法,一是對電路反饋電路進行調整,提高負阻值,通常這種方法更容易實現,只需要調整Cd,Cg的 電容值就可以很容易達成。為保證電路工作正常,建議在進行電路設計時負電阻在石英諧振器電阻的10倍左右。二。石英晶體內部測試功率從0.01UW開始測試,以保證符合低功率的要求 .

            原因分析2:

            主要是隨著起振過程中,IC溫度逐漸上升,帶動整體板子的溫度也同步上升,在板子上對溫度敏感的元器件除了石英晶體,還有電容,電感,電阻等相關的電子元器件,因此可能為這些元器件隨著溫度上升后發生改變,導致雜散電容CS的變化,從而抓不到主頻。

            解決的辦法,石英晶體具有溫度特性曲線一般的溫度范圍為-20~70度或-40~85度大范圍要求(特殊溫度要求依料號定義),基本要求不能超過頻率范圍值,而且出貨及進料均會做TC測試要求。而且溫度特性與設計有關。

            所以只要單體測試晶體就可以知道是否是晶體引起的,還是其他元器件引起。

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